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【半導體封測產線 AI 品管實務】製程資料分析、Wafer Map 缺陷辨識與 AOI 異常檢測
5 月22

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Posted By on 5 月 22, 2026 in

本課程以封測品管現場常見的良率、缺陷與 AOI 資料為核心， [...]

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【AI 驅動智慧工廠】從瑕疵檢測到預測維護的關鍵技術
5 月04

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Posted By on 5 月 4, 2026 in

這門課程由台科大智慧製造所梁書豪助理教授指導，內容精確對接半 [...]

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【從理論到產線】工廠 AI 視覺核心技術與部署實戰
5 月03

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Posted By on 5 月 3, 2026 in

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